Система мероприятий, проводимых для обнаружения таких элементов ЭВМ, параметры к-рых приближаются к предельно допускаемым (критическим) значениям. Причинами изменения параметров ЭВМ являются постепенное изменение электрич. Параметров электронных деталей (старение) и изнашивание механнч. Узлов с течением времени, окисление контактов и коррозия паек, изменение климатич. Условий и т. П. Для К. П. Искусственно создают утяжелённые режимы работы изменением питающих напряжений, увеличением частоты гл. Синхронизирующих импульсов, изменением климатич. Условий и т. Д. Обнаружение критич. Элементов производится визуально по приборам или с помощью испытательных программ. Периодичность К. П. Зависит от особенностей и назначения ЭВМ.